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Sistema compatto di tracciamento e scansione wireless per metrologia su larga scala

USD 45000,00 – 55000,00 / piece
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Categoria Instruments & Meters
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Shining 3d Tech Co., Ltd.

China

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Sistema compatto di tracciamento e scansione wireless per metrologia su larga scala
Sistema compatto di tracciamento e scansione wireless per metrologia su larga scala

Specifiche tecniche

Modello N.FreeScan Trak Nova
Servizio post-venditaSupporto online
Garanzia1 anno
StilePortatile
Tipo di interfacciaModalità wireless e cablata (fibra ottica)
Scansione di reteSupporto di rete
CertificazioneISO, CE, FCC, RoHS, Weee, Kc, FDA, Ukca, IP50, Tisax
Precisione0,02 mm
Risoluzione0,01 -10 mm
Precisione volumetrica0,062 mm (12 M³)
Precisione volumetrica con Vpg0,046 + 0,012 mm/M
Velocità di scansione6.140.000 punti/s
Modalità di scansioneTasche profonde dettagliate ad alta velocità
Fov flessibilefino a 2600 × 2200 mm
Profondità di campoTe Nova: 380 mm (170 ~ 550 mm); Ue Nova: 2700 mm
Tempi di consegna10-15 giorni
Certificazione di precisioneCertificato Vdi/VDE 2634 Parte 3 e ISO 10360
Pacchetto di trasportoScatola di cartone
SpecificaTE Nova: 1,2 kg; UE Nova: 1,6 kg
MarchioSHINING 3D
OrigineHangzhou, Cina
Codice SA9031499000
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